Local texture analysis on the ECAPed Mg-Si alloys with x-ray diffraction
No abstract available.
URL: https://publications.hereon.de/id/25453/
Authors:Gan, W.,Brokmeier, H.-G.,Zheng, M.Y.,Wu, K.,Yi, S.,Schwebke, B.,Schreyer, A.
Year:2007
In: Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft fuer Kristallographie
Location:Bremen (D)
Date:05.-09.03.2007
Type:conference poster
Cite as: Gan, W.; Brokmeier, H.; Zheng, M.; Wu, K.; Yi, S.; Schwebke, B.; Schreyer, A.: Local texture analysis on the ECAPed Mg-Si alloys with x-ray diffraction. In: Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft fuer Kristallographie. Bremen (D). 2007.
