Moeglichkeiten und Grenzen der Membrancharakterisierung mit Methoden der Rasterelektronenmikroskopie
No abstract available.
URL: https://publications.hereon.de/id/21160/
Authors:Schossig, M.
Year:2002
In: Membrantagung der deutschen Gesellschaft für Membrantechnik
Location:Kassel (D)
Date:26.-27.11.2002
Type:conference lecture
Cite as: Schossig, M.: Moeglichkeiten und Grenzen der Membrancharakterisierung mit Methoden der Rasterelektronenmikroskopie. Membrantagung der deutschen Gesellschaft für Membrantechnik. Kassel (D), 2002.
