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Quantitative Tiefenprofilanalyse mit der Totalreflexions-Roentgenfluoreszensanalyse

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  • URL: https://publications.hereon.de/id/15856/
  • Authors:Wiener, G., Michaelsen, C., Knoth, J., Schwenke, H., Bormann, R.
  • Year:1994
  • In: Fruehjahrstagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft
  • Location:Muenster (D)
  • Date:21.-25.03.1994
  • Cite as: Wiener, G.; Michaelsen, C.; Knoth, J.; Schwenke, H.; Bormann, R.: Quantitative Tiefenprofilanalyse mit der Totalreflexions-Roentgenfluoreszensanalyse. In: Fruehjahrstagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft. Muenster (D), 21.-25.03.1994, 1994.
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