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Membrancharakterisierung mittels Raster-Kraft-Mikroskopie
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URL:
https://publications.hereon.de/id/14319/
Authors:
Kamusewitz, H., Keller, M., Paul, D.
Year:
1994
In:
SXM 1 – Workshop ueber methodische Entwicklungen und Anwendungen der Nahfeld-Rastersondentechnik
Location:
Muenster (D)
Date:
4.-6. Oktober 1994
Cite as:
Kamusewitz, H.; Keller, M.; Paul, D.: Membrancharakterisierung mittels Raster-Kraft-Mikroskopie. In: SXM 1 – Workshop ueber methodische Entwicklungen und Anwendungen der Nahfeld-Rastersondentechnik. Muenster (D), 4.-6. Oktober 1994, 1994.
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