Eigenschaften der Trennschichten; Atomic Force Microscopy, Kontaktwinkelmessungen
No abstract available.
URL: https://publications.hereon.de/id/14302/
Authors:Kamusewitz, H.
Year:1998
In: Workshop bei der Fa. Sartorius AG
Location:Goettingen (D)
Date:13.05.1998
Type:conference lecture
Cite as: Kamusewitz, H.: Eigenschaften der Trennschichten; Atomic Force Microscopy, Kontaktwinkelmessungen. Workshop bei der Fa. Sartorius AG. Goettingen (D), 1998.
